제품 설명
S-TRC Series
반사 / 투과 / 컬러 / 박막 두께 측정 시스템
(주)원우시스템즈
제품 개요
S-TRC 시리즈는 사용자의 다양한 측정 요구에 대하여 필요한 기능을 복합적으로 구현이 가능하고, 다양한 옵션에 따라 멀티 측정이 가능한 기기로서, 다음과 같은 기능을 포함하고 있습니다:
- **분광분석 측정**
- **박막두께 측정**
- **투과율 및 반사율 측정**
- **컬러 측정**
핵심 특징
멀티 채널 / 멀티 측정 모드
- **Simple 셋업 & Easy 측정**으로 사용 편의성 극대화
- 옵션에 따라 **측정 포인트 당 투과, 컬러 및 박막두께 동시 측정**
다양한 n,k 데이터베이스 및 n,k 모델 지원
- **투과/반사에 의한 다층막 두께 측정** 가능
- **Cauchy, Sellmeier 방식** 및 **n,k 추출 기능** 제공
In-line 환경 가능
- 생산 라인에 직접 적용 가능한 산업용 설계
- **외부 트리거 기능**으로 공정 동기화 지원
합리적인 가격 & 저렴한 유지비용
- **USB 2.0 / Ethernet 통신 지원**으로 확장성 제공
주요 기능
멀티 측정 모드
- **옵션에 따라 측정 포인트 당 투과, 컬러 및 박막두께 동시 측정**
- 한 번의 측정으로 다양한 광학 특성 동시 분석
멀티 포인트 측정 모드
- **옵션에 따라 측정 포인트에 대한 반사, 투과, 컬러 및 박막두께 측정 가능**
- **측정 포인트 별 균일성 분석** 제공
- **다채널 분광기**를 통한 동시 다점 측정
측정 결과 레포트 기능
- 전문적인 측정 데이터 분석 및 리포트 자동 생성
- 시간에 따른 결과 변화 모니터링 및 분석
인라인 공정을 위한 부가 기능
- 실시간 공정 모니터링 지원
- 생산 라인 통합을 위한 다양한 인터페이스 제공
측정 기능 상세
투과 및 반사율 측정
- **측정 모드(반사/투과)별 비교** 분석
- **시간에 따른 결과 변화 모니터링 및 분석**
- 고정밀 광학 특성 측정
컬러 측정
- **반사에 의한 컬러 측정 및 CIE 1931 Chromaticity 다이어그램 표시**
- **다양한 Observer / Illuminant 옵션**
- **2/10-degree, A, B, C, D50~75, E, F1~F12** 지원
- 정확한 색상 분석 및 품질 관리
박막 두께 측정
- **간편한 설정으로 빠른 시간에 최적의 두께 측정 가능**
- **반사/투과에 의한 다층막 두께 측정 가능**
- **다양한 물질에 대한 n, k 데이터 제공 및 추가 가능**
- **n, k 모델지원 (Cauchy, Sellmeier 방식) 및 n, k 추출 기능**
- **옵션에따라 멀티 포인트 동시 두께 측정 가능 (다채널 분광기)**
전동 X-Y 스테이지를 사용한 2D 프로파일링 (옵션)
- **웨이퍼 두께 및 반사/투과율 2D 프로파일링** 가능
- 대면적 샘플의 균일도 맵핑 및 분석
응용 분야
반도체 산업
- **반도체 웨이퍼 공정에서의 박막 두께 측정**
- **섬유산업의 다양한 oxides, nitrides, PR 및 Poly-Si의 반사/컬러/두께측정**
- 웨이퍼 표면 특성 분석 및 공정 모니터링
디스플레이 산업
- **LCD Display 패널의 광 특성 및 두께 측정**
- **ITO thin film의 특성 연구를 장비 (T, R, thickness)**
- 터치스크린 및 OLED 패널 품질 검사
태양전지 산업
- **솔라셀 소다라임글라스의 ITO 박막 두께 측정**
- 태양전지 모듈의 투과율 및 반사율 특성 분석
- 효율 최적화를 위한 광학 특성 측정
코팅 및 필름 산업
- **다양한 광학 코팅 공정에서의 박막 두께 측정**
- **유리/필름/필터 등의 투과율 및 반사율 측정**
- **도장 컬러 분석 및 균일도 측정**
광학 부품 산업
- **CRT, PR film, Shadow Masks, Laser mirror 등의 두께측정**
- 정밀 광학 부품의 특성 분석
- 품질 관리 및 성능 최적화
연구 및 분석
- **피부조직의 반사율, 투과율을 통시 측정 (의료 연구용)**
- **Granules의 반사 및 컬러 측정**
- **생물학적 TRC 측정**
제품 사양
제품 설명
S-TRC Series
반사 / 투과 / 컬러 / 박막 두께 측정 시스템
(주)원우시스템즈
제품 개요
S-TRC 시리즈는 사용자의 다양한 측정 요구에 대하여 필요한 기능을 복합적으로 구현이 가능하고, 다양한 옵션에 따라 멀티 측정이 가능한 기기로서, 다음과 같은 기능을 포함하고 있습니다:
- **분광분석 측정**
- **박막두께 측정**
- **투과율 및 반사율 측정**
- **컬러 측정**
핵심 특징
멀티 채널 / 멀티 측정 모드
- **Simple 셋업 & Easy 측정**으로 사용 편의성 극대화
- 옵션에 따라 **측정 포인트 당 투과, 컬러 및 박막두께 동시 측정**
다양한 n,k 데이터베이스 및 n,k 모델 지원
- **투과/반사에 의한 다층막 두께 측정** 가능
- **Cauchy, Sellmeier 방식** 및 **n,k 추출 기능** 제공
In-line 환경 가능
- 생산 라인에 직접 적용 가능한 산업용 설계
- **외부 트리거 기능**으로 공정 동기화 지원
합리적인 가격 & 저렴한 유지비용
- **USB 2.0 / Ethernet 통신 지원**으로 확장성 제공
주요 기능
멀티 측정 모드
- **옵션에 따라 측정 포인트 당 투과, 컬러 및 박막두께 동시 측정**
- 한 번의 측정으로 다양한 광학 특성 동시 분석
멀티 포인트 측정 모드
- **옵션에 따라 측정 포인트에 대한 반사, 투과, 컬러 및 박막두께 측정 가능**
- **측정 포인트 별 균일성 분석** 제공
- **다채널 분광기**를 통한 동시 다점 측정
측정 결과 레포트 기능
- 전문적인 측정 데이터 분석 및 리포트 자동 생성
- 시간에 따른 결과 변화 모니터링 및 분석
인라인 공정을 위한 부가 기능
- 실시간 공정 모니터링 지원
- 생산 라인 통합을 위한 다양한 인터페이스 제공
측정 기능 상세
투과 및 반사율 측정
- **측정 모드(반사/투과)별 비교** 분석
- **시간에 따른 결과 변화 모니터링 및 분석**
- 고정밀 광학 특성 측정
컬러 측정
- **반사에 의한 컬러 측정 및 CIE 1931 Chromaticity 다이어그램 표시**
- **다양한 Observer / Illuminant 옵션**
- **2/10-degree, A, B, C, D50~75, E, F1~F12** 지원
- 정확한 색상 분석 및 품질 관리
박막 두께 측정
- **간편한 설정으로 빠른 시간에 최적의 두께 측정 가능**
- **반사/투과에 의한 다층막 두께 측정 가능**
- **다양한 물질에 대한 n, k 데이터 제공 및 추가 가능**
- **n, k 모델지원 (Cauchy, Sellmeier 방식) 및 n, k 추출 기능**
- **옵션에따라 멀티 포인트 동시 두께 측정 가능 (다채널 분광기)**
전동 X-Y 스테이지를 사용한 2D 프로파일링 (옵션)
- **웨이퍼 두께 및 반사/투과율 2D 프로파일링** 가능
- 대면적 샘플의 균일도 맵핑 및 분석
응용 분야
반도체 산업
- **반도체 웨이퍼 공정에서의 박막 두께 측정**
- **섬유산업의 다양한 oxides, nitrides, PR 및 Poly-Si의 반사/컬러/두께측정**
- 웨이퍼 표면 특성 분석 및 공정 모니터링
디스플레이 산업
- **LCD Display 패널의 광 특성 및 두께 측정**
- **ITO thin film의 특성 연구를 장비 (T, R, thickness)**
- 터치스크린 및 OLED 패널 품질 검사
태양전지 산업
- **솔라셀 소다라임글라스의 ITO 박막 두께 측정**
- 태양전지 모듈의 투과율 및 반사율 특성 분석
- 효율 최적화를 위한 광학 특성 측정
코팅 및 필름 산업
- **다양한 광학 코팅 공정에서의 박막 두께 측정**
- **유리/필름/필터 등의 투과율 및 반사율 측정**
- **도장 컬러 분석 및 균일도 측정**
광학 부품 산업
- **CRT, PR film, Shadow Masks, Laser mirror 등의 두께측정**
- 정밀 광학 부품의 특성 분석
- 품질 관리 및 성능 최적화
연구 및 분석
- **피부조직의 반사율, 투과율을 통시 측정 (의료 연구용)**
- **Granules의 반사 및 컬러 측정**
- **생물학적 TRC 측정**
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